影響涂層測(cè)厚儀檢測(cè)結(jié)果的因素有哪些
發(fā)布時(shí)間：2021-07-23 17:14瀏覽次數(shù)：
深圳市華銳昌科技有限公司生產(chǎn)的
涂層測(cè)厚儀，是用來(lái)檢測(cè)涂層厚度的專業(yè)儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域，在汽車漆面檢測(cè)方面發(fā)揮著重要的作用，下面就來(lái)介紹一下影響
涂層測(cè)厚儀檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確性的因素有哪些：
1、膜厚校正片是否合格對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響
作為涂層測(cè)厚儀的計(jì)量基準(zhǔn)，膜厚校正片需要經(jīng)過(guò)技術(shù)監(jiān)督部門的檢測(cè)并附有檢測(cè)報(bào)告，然而，在國(guó)內(nèi)外的儀器中并不多見(jiàn)，也正是因?yàn)檫@一點(diǎn)，儀器計(jì)量的準(zhǔn)確性和可靠性受膜厚校正片是否通過(guò)合格檢測(cè)的影響。
2、基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
基體金屬的導(dǎo)電性能對(duì)測(cè)量結(jié)果有影響，基體金屬的電導(dǎo)率與其材料組成和熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
3、基體金屬厚度
每個(gè)儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于此厚度，測(cè)量不受基體金屬厚度的影響。
4、邊緣效應(yīng)
該儀器對(duì)樣品表面形狀的陡度很敏感，因此，在試樣邊緣或內(nèi)角附近測(cè)量是不可靠的。
5、 曲率
試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種效應(yīng)總是隨著曲率半徑的減小而增大，因此，彎曲試樣表面的測(cè)量是不可靠的。
6、試件的變形
頭部使軟蓋標(biāo)本變形，因此無(wú)法在這些標(biāo)本上測(cè)量到可靠的數(shù)據(jù)。
7、表面粗糙度
基體金屬和涂層的表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響，隨著粗糙度的增加，影響增大，粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，在每次測(cè)量中，應(yīng)增加不同位置的測(cè)量次數(shù)，以克服這一偶然誤差，如果基體金屬是粗糙的，也必須從粗糙度相似的未涂層基體金屬試樣上取下幾個(gè)位置，或者，在涂層用不腐蝕基體金屬的溶液溶解后，必須再次檢查儀器的零點(diǎn)。
8、附著物質(zhì)
涂層測(cè)厚儀對(duì)防止探針與覆蓋面緊密接觸的粘著材料很敏感，因此，必須除去附著物，以確保探頭與試件表面直接接觸。
9、 測(cè)頭壓力
儀器測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
10、測(cè)頭的取向
儀器測(cè)頭的位置對(duì)測(cè)量有影響，測(cè)量時(shí)，測(cè)頭應(yīng)垂直于樣品表面。
11、人為使用是否遵行正確使用方法對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響
檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確性很大程度下受人為測(cè)量過(guò)程是否規(guī)范影響，不當(dāng)?shù)氖褂梅椒ú粌H會(huì)造成測(cè)量結(jié)果的不準(zhǔn)確，更嚴(yán)重的做法還會(huì)導(dǎo)致儀器受損甚至報(bào)廢，由此可見(jiàn)，測(cè)量過(guò)程中人為的正確使用會(huì)導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果的不準(zhǔn)確。
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